結晶は原子・分子が３次元の周期的配列したものであり，その配列を決定することを結晶構造解析という．結晶構造解析に最も多く使用されるのがＸ線の回折現象を利用したものである．結晶に一定波長のＸ線ビームを入射すると，結晶格子面とその面間隔により決まった条件（ブラッグ条件）の時回折が起こり，その回折角の位置や強度は結晶構造に特有で，一つの結晶の数千個以上の回折データから結晶内の原子の３次元的配置が求められる．
　本装置は回転対陰極の強力Ｘ線発生装置とコンピュータ制御の４軸型回折計部とからなり，Ｘ線回折強度の自動測定により結晶構造解析用のけーたおよびＸ線散漫散乱のデータを収集し，コンピュータ部を更新しデータ収集の能力が大幅に改善された．

　４軸というのは回転軸が４つあることを示す．３つは結晶の回転に，もう一つは計数管に関係している． 計数管は赤道面上を回転する（２θ）．ある反射の強度を観測するときは，まず計数管をBragg角（２θ）のところへもっていき，その後，結晶を回転したときに散乱ベクトルが入射Ｘ線と回折Ｘ線方向に対し適当な位置にくるようにφ，χ，ω軸を中心に結晶を回転させる．

　　　４軸型回折計の原理

装置の構成