動的構造解析装置
X-ray Imaging Plate Detector System

単結晶構造解析システム
マックサイエンス製;DIP-3000
Weissenberg-type Imaging Plate
Mac Science; DIP-3000

時分割測定システム
マックサイエンス製;DIP-220 
High-speed Data Collection Camera 
 Mac Science; DIP-220 

DIP-3000

DIP-220

 結晶は原子・分子が3次元の周期的配列したものであり,その配列を決定することを結晶構造解析という.結晶構造解析に最も多く使用されるのがX線の回折現象を利用したものである.結晶に一定波長のX線ビームを入射すると,結晶格子面とその面間隔により決まった条件(ブラッグ条件)の時回折が起こり,その回折角の位置や強度は結晶構造に特有で,一つの結晶の数千個以上の回折データから結晶内の原子の3次元的配置が求められる.
 本装置は回転対陰極の強力X線発生装置とコンピュータ制御の4軸型回折計部とからなり,X線回折強度の自動測定により結晶構造解析用のけーたおよびX線散漫散乱のデータを収集し,コンピュータ部を更新しデータ収集の能力が大幅に改善された.

DIP-3000で撮った振動写真の例.
n-ヘキサデカン/尿素包接化合物結晶.
40kV,250mA,Mokα 10分間露出
DIP-220 装置の構成図.
6枚のIPを回転させ,時間変化を追いかけながら次々とショット写真を撮ることができる.
露光位置と反対側では消去を行っている. 

マシンタイム状況