結晶にＸ線を入射すると，ブラッグの条件（2dsinθ=nλ）に従って，３次元的に特定の方向に回折Ｘ線が観測される．そして，これらの回折強度を解析することによって，元の結晶内の分子あるいは分子の３次元的な配列の様相を知ることができる．また，結晶の温度を変化させることによって，特定のブラッグ反射の強度が変化したり，新たな反射が現れることがある．このことから，結晶内で起こった構造相転移についての知見が得られる．

　本４軸回折装置は，従来の４軸回折装置と異なり，φ軸の回転機構がχ-グレードルからオフセットされており，この部分にヘリウムガス循環型の小型冷凍機が搭載できるようになっている．これにより，室温から約10Ｋまでの広い温度範囲にわたって，Ｘ線回折強度の測定が可能となっている．小型冷凍機の温度制御を含め，４軸回折装置は，ワークステーション（Sun MicroSPARC��）で行う．