走査型プローブ顕微鏡（SPM）
- 機関名カテゴリ
- 形状測定
- 機関名
- 山陽小野田市立山口東京理科大学
- 型番
- AFM5000II
- メーカー
- 日立
- 機器の主な仕様
- プローブ（探針）を金属、半導体などの試料表面上を走査することで、微小領域の表面形状や物性を測定します。探針と試料間で検出する物理量によって、原子間力顕微鏡(AFM)や摩擦力顕微鏡(FFM)として利用します。
- 利用タイプ
- 相互利用（機器利用）
- 利用金額
- お問い合わせください
- 問い合わせ先
-
管財部 施設管理課
TEL : 0836-88-4502
※空欄の場合は各施設にお問い合わせください。
※相互利用（機器利用）とは、利用者がご自身で機器を操作し、測定を行います。
※依頼測定（受託利用）とは、機器を管理する施設の職員が測定・解析を代行します。