走査電子顕微鏡
- 機関名カテゴリ
- 表面観察・分析
- 機関名
- 山口大学
- 型番
- JSM-7800F
- メーカー
- 日本電子(株)
- 機器の主な仕様
- ①0.01~30kVで加速された電子を細く、試料上を走査し、試料から発生する二次電子や反射電子を検出することにより、SEM像の観察を行う。
②試料から発生する特性X線を検出することにより、組成（B~U）とその分布を調べる。
③大気遮断交換室を備えているため、大気フリーの観察が可能。 - 利用タイプ
- 相互利用（機器利用）
- 利用金額
- 山口大学構成員 1時間：1,435円
山口大学構成員以外 1時間： 2,870円 - 問い合わせ先
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リサーチファシリティマネジメントセンター事務室
TEL : 083-933-5258
MAIL : sh082@yamaguchi-u.ac.jp
※空欄の場合は各施設にお問い合わせください。
※相互利用（機器利用）とは、利用者がご自身で機器を操作し、測定を行います。
※依頼測定（受託利用）とは、機器を管理する施設の職員が測定・解析を代行します。