遠隔操作対応透過型電子顕微鏡

機関名カテゴリ
表面観察・分析
機関名
山口大学
型番
JEM-2100PLUS
メーカー
日本電子(株)
機器の主な仕様
JEM-2100の光学系に最新の制御系をプラスし、操作性が大幅に向上した多目的電子顕微鏡で、幅広い分野での使用が可能です。
STEM(走査像観察装置 )を搭載しており、高感度、高分解能分析(EDS分析)が可能です。新設計のゴニオメータステージを採用し、 長時間の安定した観察、分析が可能です。

●バージョン:高分解能構成
●ポールピース:HR
●倍率:×1,500,000
●分解能:粒子像 0.23nm 格子像 0.14nm
●加速電圧 (kV ):80,100,120,160,200
●試料傾斜角 (X/Y):±35/30°
利用タイプ
相互利用(機器利用)
利用金額
山口大学構成員 1時間:3,220円
山口大学構成員以外 1時間:6,440円
問い合わせ先
リサーチファシリティマネジメントセンター事務室

TEL : 083-933-5258

MAIL : sh082@yamaguchi-u.ac.jp

※空欄の場合は各施設にお問い合わせください。

※相互利用(機器利用)とは、利用者がご自身で機器を操作し、測定を行います。

※依頼測定(受託利用)とは、機器を管理する施設の職員が測定・解析を代行します。