エリプソメータ

機関名カテゴリ
表面観察・分析
機関名
山口大学
型番
M-2000DI-YK
メーカー
J.A.Woollam
機器の主な仕様
薄膜やバルク材料の試料表面からの反射光の偏光状態の変化を測定して、薄膜の膜厚、光学定数(n:屈折率、k:消衰係数)を求めることができます。

●波長範囲:195nm~1685nm
●角度範囲:45度~90度
●試料サイズ:10mmφ~200mmφ
利用タイプ
相互利用(機器利用)
依頼測定(受託利用)
利用金額
山口大学構成員 1時間:500円,1日:2,500円
山口大学構成員以外 1時間:1,000円,1日:5,000円
※アドバイザーによる機器の利用代行や操作補助が発生する場合,山口大学構成員は1回3,000円,山口大学構成員以外は6,000円を加算
問い合わせ先
リサーチファシリティマネジメントセンター事務室

TEL : 083-933-5258

MAIL : sh082@yamaguchi-u.ac.jp

※空欄の場合は各施設にお問い合わせください。

※相互利用(機器利用)とは、利用者がご自身で機器を操作し、測定を行います。

※依頼測定(受託利用)とは、機器を管理する施設の職員が測定・解析を代行します。